上海一韦仪器科技有限公司
一韦仪器超离心粉碎机ZM500|大米粉碎前处理解决方案
检测样品:大米
检测项目:粉碎前处理
方案概述:大米是全球消费量最高的谷物,也是淀粉结构、直链/支链淀粉比例、重金属与农残检测的高频样品。稻米籽粒质硬而脆,胚乳含高比例淀粉,常规研磨极易因局部升温导致淀粉糊化、结团糊筛,细粉还易吸潮团聚,直接影响糊化度测定、XRD 结晶度分析与 HPLC/ICP 供试品制备的均匀性。
关键词:大米粉碎、稻米制样、超离心粉碎、淀粉样品前处理、米粉粒度、ZM500、一韦仪器
引言
大米是全球消费量最高的谷物,也是淀粉结构、直链/支链淀粉比例、重金属与农残检测的高频样品。稻米籽粒质硬而脆,胚乳含高比例淀粉,常规研磨极易因局部升温导致淀粉糊化、结团糊筛,细粉还易吸潮团聚,直接影响糊化度测定、XRD 结晶度分析与 HPLC/ICP 供试品制备的均匀性。
痛点小结:硬质胚乳 + 高淀粉,升温即糊化结团、细粉吸潮
· 硬质胚乳,冲击易碎但升温即糊化
· 细粉比表面积大,吸潮后二次团聚
· 农残/重金属检测要求防金属污染
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