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RRDE-3A旋转环盘电极仪 参考价：面议
旋转圆盘电极仪（环盘）：基于流体动力学控制旋转环盘电化学测量用的高精度电极旋转仪，RRDE-3A 的转速是由 PWM( 脉宽调制 ) 信号进行控制。 电极小巧且...
电动涂膜机 参考价：100000
电动涂膜样品均匀，厚度精确可控。
数据采集系统 参考价：面议
Keysight DAQ970A/973A数据采集系统内置六位半数字万用表，可测量和转换12 种不同的输入信号，采用主机+插入式模块设计。
数据采集系统 参考价：面议
数据采集系统DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 个内置测量功能进行测量。 执行低电流、低电阻和温度测量，并使用内置数字化器查看瞬态信号。
红外热像仪 参考价：面议
全新1024级分辨率——TiX1060红外热成像仪，配备超像素技术，可增强至314万像素。
匀胶旋涂仪 参考价：80000
匀胶旋涂仪又名匀胶机、旋涂仪，美国Laurell匀胶机650系列匀胶机适用于半导体、硅片、晶片、基片、导电玻璃及制版等表面涂覆工艺。
微型真空探针台 参考价：面议
Mini CPS微型真空探针台介电/压电/铁电/热释电/光电材料的电学性能表征，机械弹性设计，避免探针损坏薄膜样品。
铁电分析仪 参考价：面议
FEMS100铁电分析仪采用虚拟接地测量技术模式，提高测量精度，适用温度-160℃～450℃。
介电温谱测量系统 参考价：面议
介电温谱测量系统测量介电常数、介电损耗、阻抗以及它们随温度、时间、频率变化的曲线，同时得出相位θ、Cole-Cole图、导纳图和压电材料的机电耦合系数（选配）等...
高压极化装置 参考价：面议
高压极化装置可以对不同材料、厚度的陶瓷样品进行多路同步极化。每路可设置不同的的极化电压和电压时间，并且每路极化互不影响。具有安全互锁功能，取样和放样时，高压切断...
高温电阻测量系统 参考价：面议
高温电阻测量系统使用多种测量方法测量材料电阻，如四线电阻法，2线法，三环电极法，4探针法等。
薄膜电阻测试仪(四探针、电涡流) 参考价：面议
电阻测量和监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要，从半导体制造到可穿戴技术所需的柔性电子产品。R50薄膜电阻测试仪(四探针、电涡流)在金属膜均匀性分布、离子掺...
超低温力学测试系统 参考价：面议
超低温力学测试系统专用于超低温环境的材料力学试验机，温度低至-269℃。
力电联测试验机 参考价：面议
力电联测试验机通过软件关联试验机和电学仪表（LCR），实现力--电同步测试，除常规的试验机测试外，还可得到：载荷\\应力-电阻\\电容、位移\\应变-电阻\\电...
材料试验机 参考价：面议
材料力学试验机，包括静态、动态、冲击试验等，采用多种加载方式，如：机械加载、电/液伺服加载、多轴协调加载等
微纳拉伸试验机 参考价：面议
微纳力学，微纳拉伸测试，纳米拉伸测试
纳米压痕仪 参考价：面议
高精度纳米力学测试系统，原位纳米力学测试平台。
原子力显微镜 参考价：面议
原子力显微镜可进行高精度的粗糙度、台阶高度及微纳米级别三维轮廓等测量，同时可以测量相位、电场、磁场、导电力等其他各种高级物理量。
椭偏仪 参考价：面议
椭偏仪：超薄膜的实时可视化分析测试，实时观察样品微观尺度上的结构。可以测量诸如薄膜厚度、折射率和吸收系数等参数。也可以对薄膜进行区域化(选区)分析，获得所选区域...
白光干涉仪 参考价：面议
白光干涉垂直扫描和移相干涉测量法，0.1nm台阶，采用TotalFocus 技术，全视场真彩色图像。
三维光学轮廓仪 参考价：面议
多模组三维光学轮廓仪标配ZDot白光共聚焦逐层成像，可选装多模式光学系统。
探针式轮廓仪（台阶仪） 参考价：面议
探针式轮廓仪（台阶仪）源自AFM的光学杠杆技术，精确测量台阶高度及表面轮廓。
探针式轮廓仪（台阶仪） 参考价：面议
探针式轮廓仪（台阶仪）高精度、低噪声、高稳定性和大扫描量程，这些技术特点为P系列台阶仪在晶圆测试领域的广泛使用奠定了坚实的基础，也为其拓展了在其他材料测试方面的...
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