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CAMTEK 自动光学检验 Eagle-AP(3D/2D)
agleT-i是AOI市场上2D检测速度快的设备之一,其中囊括了CAMTEK的机构、新的镜头、高速的传输信道。检测原理与MVP有点类似,都是通过工业相机进行图像...
型号: CAMTEK E...
所在地:北京市
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面议更新时间:2024/9/25 15:55:45
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CAMTEKADIAEIAPIALI检测
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CAMTEK 自动光学检验 2D检测设备 EagleT-I
agleT-i是AOI市场上2D检测速度快的设备之一,其中囊括了CAMTEK的机构、新的镜头、高速的传输信道。检测原理与MVP有点类似,都是通过工业相机进行图像...
型号: CAMTEK E...
所在地:北京市
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面议更新时间:2024/9/25 15:53:38
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CAMTEK自动光学检验AOI先进封装OQC检测
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电子加工METCAL(OK)压力通风系统BVX-100
BVX-100台式单用户吸烟臂/压力通风系统
型号: METCAL BV...
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BVX-100METCAL烟雾净化器美国OKBVX-200
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电子加工:PTC/PTTC 烙铁头 焊接、拆焊
PTC/PTTC 烙铁头 [焊接、拆焊和返修系统] 其他配件
型号: METCAL-PT...
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METCAL(OK)PTCPTTC烙铁头电烙铁
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电子加工METCAL-SSC 烙铁头焊接、拆焊
SSC 烙铁头[焊接、拆焊和返修系统]SSC-671A 凿型,(宽×长)SSC-771A 1.0 x 9.1 mm (.04“ x .36“)SSC-...
型号: METCAL(OK...
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烙铁头METCAL美国OKISSC奥科/奥泰
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电子焊接:美国OKI/METCAL电烙铁STTC
美国OKI/METCAL电烙铁MX-500/MX-5200/MX-5000手柄线MX-RM3E
型号: PTTC
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METCAL美国OKI电烙铁福都工业奥科/奥泰
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METCAL(OK)电烙铁DFP-CN4/DCP-CN4
METCAL电烙铁DFP-CN4/DCP-CN4/DFP-CN5/DCP-CN5/DFP-CN6详细介绍
型号: DFP-CN5/D...
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METCAL(OK)电烙铁OKIDFP-CN/DCP-CN
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高性能电子束曝光机
高性能电子束曝光机是一款高性能的纳米光刻系统,拥有完整200mm尺寸的光刻能力,这款电子束光刻系统代表了不断进化的高度成功和广为市场接受的EBPG系列产品。
型号: RAITH- EB...
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RAITH电子束光刻电子束曝光EBLEBPG5200
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电子束直写系统 EBPG5150
EBPG5150使用了155mm大小的样品台,采用跟电子束曝光机EBPG5200一样的通用光刻平台设计,
型号: RAITH-EBP...
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RAITH电子束光刻电子束曝光EBLEBPG5150
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多功能电子束曝光系统PIONEER Two
PIONEER Two将专业电子束曝光设备和电子成像系统所有的先进性能,融合成一套独立的成套系统。多功能性、稳定性、用户友好性操作,使PIONEER Two系统...
型号: 亚科
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RAITH电子束光刻电子束曝光EBLPIONEER Two
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RAITH多功能电子束曝光系统eLINE Plus
探索超越电子束曝光功能的纳米工程系统超高分辨电子束曝光、成像及纳米工程系统纳米加工领域的瑞士
型号: 亚科
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RAITH电子束光刻电子束曝光EBLeLINE Plus
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Electron Beam Lithography System(EBL)
纳米光刻技术在微纳电子器件制作中起着关键作用,而电子束光刻在纳米光刻技术制作中是的方法之一。先进纳米科技提供;的电子束纳米光刻(EBL)系统,或称电子束直写(E...
型号: 亚科
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亚科电子束光刻电子束曝光EBLCABL-UH
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超高分辨率电子束光刻EBL(CABL-UH series)
纳米光刻技术在微纳电子器件制作中起着关键作用,而电子束光刻在纳米光刻技术制作中是的方法之一。日本CRESTEC公司为21世纪先进纳米科技提供的电子束纳米光刻(E...
型号: CRESTEC
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CRESTEC电子束光刻电子束曝光EBLCABL-UH
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电子束光刻系统
电子束光刻系统特点1.采用高亮度和高稳定性的TFE电子枪2.出色的电子束偏转控制技术3.采用场尺寸调制技术,电子束定位分辨率(address size)可达0....
型号: CRESTEC
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CRESTEC电子束光刻电子束曝光EBL电子束
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探针式表面轮廓仪
探针式表面轮廓仪在严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面...
型号: BRUKER De...
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面议更新时间:2024/9/25 15:19:58
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探针式轮廓仪Dektak-XTL轮廓仪台阶仪BRUKER Dektak-XTL
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Bruker布鲁克Dektak XTL 测针轮廓仪系统
Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片...
型号: BRUKER De...
所在地:北京市
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面议更新时间:2024/9/25 15:17:50
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探针式轮廓仪Dektak-XTL轮廓仪台阶仪BRUKER Dektak-XTL
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布鲁克探针式表面轮廓仪
Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片...
型号: BRUKER De...
所在地:北京市
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面议更新时间:2024/9/25 15:16:03
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探针式轮廓仪Dektak-XTL轮廓仪台阶仪BRUKER Dektak-XTL
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Dektak-XT桌面型探针式表面轮廓仪
布鲁克探针式表面轮廓仪(又称“台阶仪")历今四十载,积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量,到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试,Dektak台...
型号: BRUKER De...
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探针式轮廓仪Dektak-XT轮廓仪台阶仪BRUKER Dektak-XT
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探针式表面轮廓仪
布鲁克探针式表面轮廓仪(又称“台阶仪")历今四十载,积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量,到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试,Dektak台...
型号: Dektak XT
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探针式轮廓仪表面轮廓仪轮廓仪台阶仪BRUKER布鲁克
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ContourGT-K 3D光学显微镜
ContourGT-K 3D光学显微镜是表面轮廓仪功能和价值的标准。该系统具有各种2D / 3D测量,高分辨率成像和用户友好的界面,该系统以紧凑的封装和紧凑的占...
型号: BRUKER Co...
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三维光学轮廓仪白光干涉仪三维光学轮廓BRUKER ContourGT