探针式表面轮廓仪在严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面...

Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片...

Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片...

布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪"）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台...

布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪"）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台...

Bruker台阶仪Dektak XT也叫探针式表面轮廓仪（台阶仪）；实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、...

布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，Bruker探针式表面轮廓仪（台阶仪）；实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性5Å。产品源自...

台阶高度重复性优于5埃（5 Å）单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性良好的"智能化电子器件"实现了低噪声的新标杆操作简便，高效易用直观化的Vi...