Bruker台阶仪Dektak XT也叫探针式表面轮廓仪（台阶仪）；实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、...

机械与性能摩擦测试模块化■底盘系统集成单一高扭矩电机，可提供全量程的速度和扭矩；■可互换下驱动可在同一紧凑的平台上运行几乎所有的摩擦磨损试验；■ TribolD...

SEC公司研发生产的桌上扫描电镜（Mini-SEM）实现了大电镜的小型化处理，结构紧凑操作便捷，Mini-SEM以其人性化实用性设计及实惠的价格，成为了广泛应用...

钨灯丝扫描电镜：VEGA系列的设计适合各种SEM应用及当今研究和工业的需求。经过10多年的不断发展，TESCAN已经成功开发、研制和制造了VEGA的第三代产品。...

一代的TESCAN--场发射扫描电镜给用户带来了的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等）...

S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员，是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统，它可以提供的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以...

OLS4500是一款集成了光学显微镜、激光显微镜和扫描探针扫描显微镜（SPM）功能于一体的新型纳米检测显微镜，可以实现从50倍到高100万倍的超大范围的观察和测...

应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传...

TESCAN致力于持续不断的改进产品以使其保持在微纳技术创新解决方案领域内的竞争力。本着制造品质和高可靠性、高稳定性产品的原则，借助于先进的资源信息处理系统和优...

TESCAN致力于持续不断的改进产品以使其保持在微纳技术创新解决方案领域内的竞争力。本着制造品质和高可靠性、高稳定性产品的原则，借助于先进的资源信息处理系统和优...

D8 结晶解决方案 — X射线单晶衍射仪 （SC-XRD） 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构明确方法，且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及...

布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪"）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台...

探针式表面轮廓仪在严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面...

FastScan布鲁克原子力应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材...

布鲁克Bruker 原子力显微镜Edge应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质...

应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，...

应用：应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，...

Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片...

Dektak XTL 严格的质量保证与控制下获得300mm性能检测;可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片...

布鲁克探针式表面轮廓仪（又称“台阶仪"）历今四十载，积累大量专有技术。从传统的二维表面粗糙度和台阶高度测量，到更高级的三维表面成像和薄膜应力测试，Dektak台...