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混凝土扫描仪 参考价：面议
这款混凝土扫描仪是专业为钢筋混凝土扫描设计混凝土钢筋扫描仪,能够扫描处混凝土内的钢筋,管线和空隙,查找钢筋和管道走向,避免施工切割到钢筋和管线。
激光多普勒测振仪 参考价：面议
激光多普勒测振仪是为非接触式振动测量设计的激光测振仪器,可非接触式测量任何表面的振动,采用激光束准直对准待测振动平面,远测量距离高达5米,不需要任何光学和机械调...
高分辨率扫描电子显微镜 参考价：面议
高分辨率扫描电子显微镜SEM-200具有3nm分辨率能力和竞争力的扫描电镜价格,广泛用于科研单位使用。
晶圆芯片装卸操作台 参考价：面议
晶圆装卸操作台是专业为4英寸晶圆装卸,晶圆搬运,晶圆取放等晶圆操作操纵设计的晶圆装卸定位台系统。它采用XYZ三维定位台和360度旋转台集成而成。
光纤连接器端面测试干涉仪 参考价：面议
光纤连接器端面测试干涉仪FiBO®200是经济型的光纤接头端面分析测量仪器。具有光纤接头高分辨率3D表面计量和自动缺陷检测功能。可在生产现场或现场快速...
光纤连接器端面检测仪,光纤接头端面干涉仪 参考价：面议
光纤连接器端面检测仪FiBO®250是光纤接头端面干涉仪是对,可提供高分辨率3D表面计量和自动缺陷检测结合。
光纤端面几何测量仪,相移干涉仪 参考价：面议
光纤端面几何测量仪FiBO®300是一种多功能phase-shifting相移干涉仪，用于对裸光纤和非标准光纤连接器的光纤端面几何结构测量分析。可变光...
光纤色散测试仪 参考价：面议
光纤色散测试仪CD500是为光纤色散测量设计的色散测量系统,具有测量PMD单模光纤中偏振色散功能,非常适光纤和光缆生产检测。
光纤光谱衰减测量仪 参考价：面议
光纤光谱衰减测量仪SA500HD是为光纤衰减测量设计的光纤衰减测试仪器,利用DSP和固态单色仪技术测量光纤光谱损耗对波长的变化。高动态范围允许测试现在在中发现的...
模场直径有效面积测量系统 参考价：面议
模场直径有效面积测量系统是pe.fiberoptics公司光纤模场直径测试和光纤有效面积分析测量设计的MFD和Aeff测试仪器。
可调光纤法布里-珀罗滤波器 参考价：面议
可调光纤法布里-珀罗滤波器Fiber Fabry-Perot (FFP) Tunable Filter采用坚固外壳封装和全光纤制造,具有较低损耗,无准直光学元件...
KPFM-SKPM开尔文探针力显微镜 参考价：面议
这款KPFM开尔文探针力显微镜,SKPM扫描开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy)可以访问从50mm到350mm的样品...
单点开尔文探针系统 参考价：面议
我们的单点开尔文探针系统采用非零信号检测方法对材料的功函数/费米能级进行非常高质量的测量。
超高真空开尔文探针系统 参考价：面议
超高真空开尔文探针系统帮助用户充分利用真空下的工作功能和接触电位差（CPD）测量。每个系统都配有高质量的手动或电动转换器，可实现可靠和准确的针尖到样品定位，跟踪...
开尔文探针系统,Kelvin Probe 参考价：面议
开尔文探针系统Kelvin Probe可用于光电化学中,精确测量不同半导体和导电材料的功函数，精度高。表面态在样品的电荷转移和功函数变化中起着重要作用。
超高真空超低温四探针SPM显微镜 参考价：面议
这超高真空超低温四探针SPM是超高真空室内应用设计的UHV极低温多探针扫描探针显微镜，得益于多探针SPM优异性能,这款产品可用于纳米技术
高压溅射PVD物理气相沉积系统 参考价：550000
高压PVD系统配置适合在晶圆溅射金属膜,磁性材料,多组分氧化物,得益于它灵活的配置和特殊的晶圆加热器设计,PVD可以在温度最高900℃的衬底上溅射金属膜层和磁性...
电子束蒸发镀膜系统 参考价：1200000
电子束蒸发系统是按照“从实验室到工厂"的方法设计的电子束镀膜蒸发系统,既适用于密集的研发活动，也适用于中试生产。
晶圆电阻率测试仪Sheet Resistance 参考价：面议
晶圆电阻率测试仪Sheet Resistance采用非接触方式测量晶圆电阻率,测量P/N类型和晶圆厚度,适合硅材料和其它材料的Sheet Resistance测...
四探针电阻率电导率计 参考价：面议
这款四探针电阻率电导率计可快速测量材料的薄层电阻,方块电阻,sheet resistance电阻率和电导率,适合多种材料和样品测量。
自动四探针电阻率mapping测试系统 参考价：面议
自动四探针电阻率mapping测试系统是为晶圆电阻率绘图mapping设计的工业级自动四点探针电阻率测试系统。采用成熟的行业标准，提供快速、准确和可靠的晶圆样品...
晶圆厚度变化测量仪 参考价：面议
高分辨率晶圆厚度和厚度变化测量仪MX10x系列是德国测量硅片厚度和TTV厚度变化的仪器。它的分辨率高达10nm，可以在几秒钟内适应不同的厚度范围。
硅片TTV厚度测量仪 参考价：面议
该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪，能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化，也能实时测量超薄晶圆厚度（掩膜过程中的晶圆），硅片厚度测试...
硅片TTV厚度测试仪,测量硅片厚度 参考价：面议
该硅片TTV厚度测试仪是采用红外干涉技术的硅片厚度测量仪，能够精确测量硅片厚度和测量TTV总厚度变化，也能实时测量超薄晶圆厚度（掩膜过程中的晶圆），硅片厚度测试...
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