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玻璃翘曲度测量仪 参考价：面议
这款玻璃翘曲度测量仪是大尺寸玻璃弯曲度测量仪和玻璃弯曲度测试仪,广泛用于翘曲度测量,弯曲度测量,表面形貌测量和镀膜测量等。,玻璃弯曲度测量仪,玻璃弯曲度测试仪由...
晶圆翘曲度测量仪 参考价：面议
这款多功能晶圆翘曲度测量仪是为晶圆生产线上自动晶圆翘曲度测量设计的大型自动晶圆测量仪器,具有晶圆厚度测量,晶圆翘曲度测量,晶圆BOW/WARP测量,晶圆wave...
单晶多晶硅片寿命测试仪 参考价：面议
单晶多晶硅片寿命测试仪是专用为晶圆品质检验,测量少子寿命,测量光电导率和电阻率等研发的晶圆寿命测试仪器
晶圆少子寿命测量仪 参考价：面议
这款晶圆少子寿命测量仪是专业为晶圆少数载流子复合寿命测量设计的少子寿命测试仪器。
单点少子寿命测量仪 参考价：面议
单点少子寿命测量仪系统是经济型晶圆寿命测量仪器,对不同制备阶段的硅材料电学参数进行表征。
晶圆晶锭寿命测定仪 参考价：面议
晶圆晶锭寿命测定仪是为晶圆晶锭测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查任务设计的晶圆晶锭少子寿命测试仪器。采用非接触式检测和无损成像（μPCD /...
温度型少子寿命测试仪 参考价：面议
这款温度型少子寿命测试仪是为25℃~200℃范围内晶圆少数载流子复合寿命测量设计的温度决定型少子寿命测定仪器。
光学镀膜检测仪 参考价：面议
光学镀膜检测仪PHOTON RT UV-VIS-MWIR是为光学镀膜分析检测设计的镀膜扫描分光光度计,满足光学样品的无人值守薄膜测量。测量基片上同一区域的透射率...
聚合物薄膜测厚仪,进口膜厚仪 参考价：面议
聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻...
进口光学膜厚仪 参考价：面议
光学膜厚仪是一款台式光学薄膜测厚仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光,也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k...
磁场屏蔽消磁仪 参考价：面议
这款磁场屏蔽消磁仪MK-1用于MRI核磁共振和生物磁应用的单轴磁场消除和电磁噪音屏蔽消除,非常适合当磁场传感器不能放置在屏蔽空间内的应用。
磁场消除系统,磁场补偿系统 参考价：面议
磁场消除系统为扫描电镜,聚焦离子束FIB消磁或电磁屏蔽设计的消磁仪器和磁场补偿系统,有效屏蔽消除磁场噪声问题,为电子显微镜,电子和离子束实验,磁共振成像MRI,...
主动磁场屏蔽消磁系统ECS 参考价：面议
主动磁场屏蔽消磁系统 ECS是专业为电镜等电子束仪器屏蔽磁场干扰而设计的主动磁场屏蔽和主动消磁装置系统.用于为科学仪器装置免受磁场干扰影响的环境.
薄膜厚度均匀性测量仪 参考价：面议
这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。
手持式薄膜测厚仪,薄膜厚度测量仪 参考价：面议
这款手持式薄膜测厚仪是便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等，这...
光学膜厚仪,光学薄膜测厚仪 参考价：面议
宽带光学膜厚仪是一款台式光学薄膜测厚仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光,也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n...
光学薄膜测厚仪 参考价：面议
这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，非常适合日常已知膜系膜堆测量。
进口大型晶圆探针台 参考价：面议
大型晶圆探针台600LS是专业为300mm晶圆测试设计的大尺寸晶圆测试探针台系统,广泛用于6''晶圆,8''晶圆和12''晶圆探针测试应用。
磁场低温探针台 参考价：面议
磁场低温探针台采用MicroXact低温磁探针台技术,满足电磁铁、超导磁体或电磁铁和超导磁体的组合测试应用。
进口无氦低温探针台 参考价：面议
无氦低温探针台CPS-CF是为极低温探针测试设计的闭循环低温探针台系统,适合低温下对器件和电路进行探针测试。
半自动真空探针台 参考价：面议
这款半自动真空探针台SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探针系统，设计用于支持在真空或受控气体环境中对多达100mm...
磁探针台 参考价：面议
这款磁探针台可提供三维磁场控制,满足磁性控制RF探针测试应用.作为磁场探针台实现了平面磁场的任意操控,方便自旋电子器件探针测试.
进口高温探针台 参考价：面议
这款高温探针台是为高温环境器件测试或真空环境或气体环境器件探针台分析测试而设计。
闭循环低温真空探针台 参考价：面议
这款闭循环低温真空探针台是半自动低温真空探针台,可在低温单CCR系统9K，双CCR系统4.5K和三CCR系统低于4K温度下测试经验和器件。
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