首页>>孚光精仪(中国)有限公司>>产品展示>>光学测量系列
太阳能电池I-V测试仪 参考价:面议
太阳能电池I-V测试仪能够高精度高效率地测量太阳能I-V曲线和Suns-Voc数据,可高精度测量传统太阳能电池和背接触太阳能电池。Suns-Voc后扩散测试仪 参考价:面议
Suns-Voc后扩散测试仪是Suns-Voc后扩散过程控制的理想仪器,适合用于浆料烧结优化和过程控制。高分辨率晶圆厚度测试仪 参考价:面议
高分辨率晶圆厚度测试仪能够高精度测量硅晶圆厚度和硅晶圆厚度变化,分辨率高达10nm,可满足不同的晶圆厚度范围。微探针系统 参考价:面议
这款微探针系统micro probe是为材料光学特性和电特性测试设计的纳米级微纳探针仪器,可以结合显微镜,光谱仪等仪器在各种环境条件下现场测试材料电学和光学特性...纳米操纵系统 参考价:面议
纳米操纵系统采用纳米探针模块nanoprober为显微镜或电镜下微纳操作提供纳米级微操纵方案,非常适合SEM和各种电镜样品微操作使用电镜荧光屏 参考价:面议
这款电镜荧光屏与电镜光导联合使用用于电镜探测和电镜成像,电镜荧光片采用进口闪烁单晶,具有荧光转换效率高,寿命长的特点,是SEM扫描电镜探测成像和TEM透射电镜探...磁场消除系统 参考价:面议
这款磁场消除系统专业为扫描电镜,聚焦离子束FIB消磁或电磁屏蔽设计的消磁仪器和磁场补偿系统,有效屏蔽消除磁场噪声问题,为电子显微镜,电子和离子束实验,磁共振成像...范德瓦尔斯转移台 参考价:面议
范德瓦尔斯转移台VAN DER WAALS是为半导体芯片不同材料在位置的堆积过程研究设计的范德瓦尔斯位移台。C-V/I-V特性测试仪 参考价:面议
C-V/I-V特性测试仪是为半导体C-V特性分析测试和I-V特性测试分析设计的C-V/I-V测试系统。纳米扫描电镜 参考价:面议
这款纳米扫描电镜SEM-20是台式扫描电镜,具有较低的扫描电镜价格,非常适合纳米科学,材料科学电镜应用。台式扫描电镜 参考价:面议
这款台式扫描电镜SEM-30是纳米扫描电镜,具有较低的扫描电镜价格,非常适合纳米科学,材料科学研究。EDS扫描电镜 参考价:面议
这款EDS扫描电镜SEM-30AX是安装有Thermal公司紧凑型EDS探测器的高性价比扫描电镜,集成了扫描电镜和能量色散光谱仪功能,具有较低的扫描电镜价格,非...晶圆灰化系统 参考价:面议
晶圆灰化系统是为晶圆ashing设计的晶圆灰化机,wafer ashing,广泛用于本体抗蚀剂,LDI后抗蚀剂,聚合物去除。多功能量子效率测量系统 参考价:面议
这套多功能太阳能电池量子效率测量系统是多用途量子效率测试系统,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应(Spectral ...大型自动光学检测系统AOI,晶圆光学jian测 参考价:面议
大型自动光学检测系统AOI是为14''晶圆光学检测设计的自动光学检测机器,非常适合微电子与半导体检测,自动光学检测晶圆、芯片、引线键合等。3D自动光学检测系统,AOI,SMT半导体 参考价:面议
这款3D自动光学检测系统是为晶圆AOI自动光学检测设计的全自动3D AOI三维自动光学检测机器,可应用于SMT生产线和半导体制造的第二道工序。薄膜粘附力热学测试仪 参考价:面议
这款薄膜粘附力热学测试仪是为薄膜厚度测量,薄膜粘附力测量和薄膜热导率测量设计的薄膜特性分析测试仪器。采用光声显微镜和异步光学采样ASOPS技术实现高精度薄膜力学...高压探针臂,高压电流探针测试,probe arm 参考价:面议
这款高压探针臂 probe arm也是大电流探针臂,可加持各种探针,满足20KV和200A的高压电流探针测试。三轴探针臂,同轴探zhen臂,probe arm 参考价:面议
三轴探针臂,同轴探针臂是为探针测量专用三轴探针夹具,Triaxial probe arm.晶圆分拣机器人,自动晶圆fen拣机 参考价:面议
晶圆分拣机器人是为大尺寸晶圆硅片分拣分选设计的自动晶圆分拣机系统,可分选高达12''尺寸晶圆。带式晶圆分选机,硅片分选 参考价:面议
带式晶圆分选机belt sorter是专业为晶圆硅片分选设计的皮带式晶圆硅片分选机,最大可适合8''晶圆分选分拣,非常适合晶圆硅片的生产测试。自动光学检测系统AOI,晶圆,引线键合检测 参考价:面议
大型自动光学检测系统AOI是为14''晶圆光学检测设计的自动光学检测机器,非常适合微电子与半导体检测,自动光学检测晶圆、芯片、引线键合等。电路板自动光学检测机AOI,PCBA光学jian测 参考价:面议
电路板自动光学检测机AOI Systems是为电路板PCB和PCBA光学检测设计的线上桌面型自动光学检测机。3D自动光学检测系统,AOI光学jian测机 参考价:面议
这款3D自动光学检测系统是为晶圆AOI自动光学检测设计的全自动3D AOI三维自动光学检测机器,可应用于SMT生产线和半导体制造的第二道工序。