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首页>>深圳市达瑞博电子有限公司>>产品展示>>光学仪器及设备

  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    HMI eScan 315 晶圆检测仪是一款由HMI公司制造的自动化晶圆和掩模检查设备,旨在为图案化晶圆和光罩检查过程提供经济高效的解决方案。该系统采用专有的P...
    型号: eScan 315 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    自动化晶圆掩模检查图案化晶圆光罩检查全面的缺陷审查
    2025/4/29 10:04:38597
  • 光学显微镜 参考价:面议

    OLYMPUS AL3110 光学显微镜是一款多功能的显微镜,适用于多种应用领域.OLYMPUS AL3110 显微镜设计用于提供高精度和图像质量,广泛应用于生...
    型号: AL3110 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    多功能OLYMPUS/奥林巴斯高精度高分辨率CCD相机机动聚焦
    2025/4/29 10:02:47397
  • 光学显微镜 参考价:面议

    OLYMPUS AL2100 光学显微镜是一款高性能的显微镜,具有多种功能和用途。AL2100显微镜具有明场、暗场、偏振光、荧光和相位对比度成像能力。它还配备了...
    型号: AL2100 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    放大倍率范围从5倍到1000倍明场暗场200mm晶圆检测OLYMPUS/奥林巴斯
    2025/4/29 10:00:23498
  • 光学显微镜 参考价:面议

    OLYMPUS AL2000 光学显微镜是一款由奥林巴斯公司生产的显微镜,具有多种应用和功能。此显微镜特别适用于晶圆检测,是一种晶圆检查显微镜,适用于半导体行业...
    型号: AL2000 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    奥林巴斯通用显微镜高速扫描高级照明明场和暗场模式
    2025/4/29 9:58:47522
  • 光学显微镜 参考价:面议

    OLYMPUS AL120 光学显微镜是一种用于半导体晶圆搬送及检测的显微镜系统,具有多种型号和配置,以满足不同尺寸和需求的晶圆处理。
    型号: AL120 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    半导体晶圆搬送及检测奥林巴斯MX专业晶圆检查显微镜微分干涉(DIC)近红外线(IR)深紫外线(DUV)
    2025/4/29 9:57:10445
  • 光学显微镜 参考价:面议

    Nikon OST 3200 光学显微镜是一款多功能的光学显微镜和晶圆检测设备,广泛应用于研究、临床和教学领域。Nikon OST-3200 提供了图像质量和优...
    型号: OST 3200 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    多功能光学显微镜晶圆检测设备掩模缺陷
    2025/4/29 9:54:51560
  • 光学显微镜 参考价:面议

    Nikon OST 3100 光学显微镜是一种用于半导体检测的显微镜系统,专为300mm晶圆设计。高分辨率成像:它能够提供高分辨率、三维动态变焦和温度控制的样本...
    型号: OST 3100 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    半导体检测光学显微镜300mm晶圆高分辨率成像三维动态变焦
    2025/4/29 9:52:59917
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    THERMA-WAVE TP 630 晶圆检测仪是一种先进的晶圆测试和计量设备,广泛应用于半导体、数据存储和光伏产业。该设备具备多种尖duan技术,能够提供高精...
    型号: THERMA-WA... 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    THERMA-WAVE TP 630晶圆测试和计量红外激光扫描光学器件双色高温计红外成像技术和分析技术
    2025/4/29 9:50:57707
  • 光学计量仪 参考价:面议

    KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光学计量仪是一种先进的半导体晶圆测试和计量设备,主要用于精确测量半导体晶圆的特征尺寸和形状。该系统采...
    型号: Spectra-S... 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    半导体晶圆测试和计量CD测量和形状测量自动非接触式2D(高度)测量非接触式计量工具缺陷审查
    2025/4/29 9:48:41445
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor Puma 9100 晶圆检测仪是一款先进的半导体晶圆测试和计量设备,广泛应用于生产及研发领域。该设备具有高精度和可重复性的特点,能够提供精...
    型号: Puma 9100 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    半导体晶圆测试和计量设备自动化样品处理能力微米级测量暗场缺陷检测高精度和可重复性
    2025/4/29 9:46:58541
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor Puma 9000 晶圆检测仪是一款优良的晶圆检测和计量设备,广泛应用于半导体制造业。该系统利用KLA-Tencor创新的Streak&t...
    型号: Puma 9000 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆检测和计量Streak™暗视野成像技术高分辨率成像光学扫描高速成像技术
    2025/4/29 9:45:21783
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT XUV 晶圆检测仪是一款优良的晶圆测试和计量设备,主要用于半导体行业的高精度检测。该系统采用超紫外(UV)模式匹配技术和最新一代的...
    型号: AIT XUV 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆测试和计量超紫外(UV)模式1/10000毫米大小激光扫描双暗场光学检查
    2025/4/29 9:43:44553
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT XP 晶圆检测仪是一款功能强大且高效的晶圆测试和计量设备,通过其先进的检测技术、自动化功能和模块化设计,能够显著提升半导体制造过程...
    型号: AIT XP 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    图案化晶圆晶圆测试和计量暗场显微镜技术缺陷检测掩模
    2025/4/29 9:41:37566
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT II 晶圆检测仪是一种先进的晶圆测试和计量系统,专为半导体行业设计。该系统具有多种功能和特点,使其在晶圆缺陷检测和过程控制方面表现...
    型号: AIT II 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆测试和计量200mm、300mm甚至450mm双暗场检查工具SECS/GEM通信接口缺陷检查
    2025/4/29 9:39:48646
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT I 晶圆检测仪是一种用于检测图案化晶圆表面缺陷的系统。该系统配置为处理6英寸(150毫米)和8英寸(200毫米)的晶圆,并具备自动...
    型号: AIT I 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    图案化晶圆表面缺陷6英寸(150毫米)8英寸(200毫米)自动对焦双暗场检查
    2025/4/29 9:37:45515
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor 2351 晶圆检测仪是一种先进的晶圆和掩模检测系统,广泛应用于半导体制造行业。该系统具备多种功能,包括高分辨率成像、自动化分析以及专门的缺...
    型号: 2351 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆检测仪KLA-Tencor掩模检测系统缺陷检测200mm晶圆尺寸
    2025/4/29 9:35:35658
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor 2135 晶圆检测仪是一种高duan的掩模和晶圆检测系统,具有多种先进技术和高灵敏度成像功能。以下是其详细规格参数:用途:主要用于图案化晶...
    型号: 2135 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆检测仪KLA-Tencor晶圆检测系统缺陷检测晶片表面映射
    2025/4/29 9:33:11550
  • 颗粒检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor Surfscan SP2 颗粒检测仪是一款先进的掩模和晶圆检测设备,广泛应用于集成电路(IC)制造过程中的缺陷检测与分类。该系统采用先进的...
    型号: SP2 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    颗粒检测仪晶圆检测KLA-Tencor缺陷检测晶圆检测仪
    2025/4/29 9:30:42900
  • 颗粒检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor SFS6420 颗粒检测仪是一种用于晶圆检测和计量的系统,广泛应用于半导体制造领域。该设备由KLA-Tencor公司生产,具有多种功能和特...
    型号: SFS6420 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    颗粒检测仪KLA-Tencor晶圆检测表面分析计量
    2025/4/29 9:28:43564
  • 椭圆偏光仪 参考价:面议

    RUDOLPH S3000A 椭圆偏光仪是一种高性能的椭圆偏光计,广泛应用于半导体行业。以下是其详细规格参数:波长:该设备配备532nm的激光源。样品尺寸:适用...
    型号: S3000A 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    椭圆偏光仪Rudolph Technologies鲁道夫技术12英寸晶圆薄膜
    2025/4/29 9:26:39486
  • 薄膜厚度测试仪 参考价:面议

    Rudolph MP300 薄膜厚度测试仪是一种高性能的晶圆测试和计量设备,广泛应用于半导体制造行业。以下是其详细规格参数:类型:晶圆测试和计量设备。用途:用于...
    型号: MP-300 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    薄膜厚度测试Rudolph Technologies鲁道夫晶圆测试计量设备Cu薄膜厚度测量
    2025/4/29 9:24:20571
  • 薄膜厚度测试仪 参考价:面议

    Rudolph MP200薄膜厚度测试仪是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度测量设备型号:Rudolph MP200 。制造商:Rud...
    型号: MP-200 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    薄膜厚度晶圆测试Rudolph Technologies鲁道夫技术计量系统晶圆大小: 8“
    2025/4/29 9:22:17451
  • 扫描电子显微镜 参考价:面议

    Applied Materials CX 200 扫描电子显微镜设备概述型号: SEMVision CX 200制造商: Applied Materials应用...
    型号: CX 200 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    Applied Materials扫描电子显微镜光学检查机器0.2 NA光学系统半导体检测设备
    2025/4/29 9:20:33708

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