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首页>>深圳市达瑞博电子有限公司>>产品展示>>光学仪器及设备>>晶圆检测仪

  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    HMI eScan 315 晶圆检测仪是一款由HMI公司制造的自动化晶圆和掩模检查设备,旨在为图案化晶圆和光罩检查过程提供经济高效的解决方案。该系统采用专有的P...
    型号: eScan 315 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    自动化晶圆掩模检查图案化晶圆光罩检查全面的缺陷审查
    2025/4/29 10:04:38597
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    THERMA-WAVE TP 630 晶圆检测仪是一种先进的晶圆测试和计量设备,广泛应用于半导体、数据存储和光伏产业。该设备具备多种尖duan技术,能够提供高精...
    型号: THERMA-WA... 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    THERMA-WAVE TP 630晶圆测试和计量红外激光扫描光学器件双色高温计红外成像技术和分析技术
    2025/4/29 9:50:57707
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor Puma 9100 晶圆检测仪是一款先进的半导体晶圆测试和计量设备,广泛应用于生产及研发领域。该设备具有高精度和可重复性的特点,能够提供精...
    型号: Puma 9100 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    半导体晶圆测试和计量设备自动化样品处理能力微米级测量暗场缺陷检测高精度和可重复性
    2025/4/29 9:46:58541
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor Puma 9000 晶圆检测仪是一款优良的晶圆检测和计量设备,广泛应用于半导体制造业。该系统利用KLA-Tencor创新的Streak&t...
    型号: Puma 9000 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆检测和计量Streak™暗视野成像技术高分辨率成像光学扫描高速成像技术
    2025/4/29 9:45:21783
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT XUV 晶圆检测仪是一款优良的晶圆测试和计量设备,主要用于半导体行业的高精度检测。该系统采用超紫外(UV)模式匹配技术和最新一代的...
    型号: AIT XUV 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆测试和计量超紫外(UV)模式1/10000毫米大小激光扫描双暗场光学检查
    2025/4/29 9:43:44553
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT XP 晶圆检测仪是一款功能强大且高效的晶圆测试和计量设备,通过其先进的检测技术、自动化功能和模块化设计,能够显著提升半导体制造过程...
    型号: AIT XP 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    图案化晶圆晶圆测试和计量暗场显微镜技术缺陷检测掩模
    2025/4/29 9:41:37566
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT II 晶圆检测仪是一种先进的晶圆测试和计量系统,专为半导体行业设计。该系统具有多种功能和特点,使其在晶圆缺陷检测和过程控制方面表现...
    型号: AIT II 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆测试和计量200mm、300mm甚至450mm双暗场检查工具SECS/GEM通信接口缺陷检查
    2025/4/29 9:39:48646
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor AIT I 晶圆检测仪是一种用于检测图案化晶圆表面缺陷的系统。该系统配置为处理6英寸(150毫米)和8英寸(200毫米)的晶圆,并具备自动...
    型号: AIT I 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    图案化晶圆表面缺陷6英寸(150毫米)8英寸(200毫米)自动对焦双暗场检查
    2025/4/29 9:37:45515
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor 2351 晶圆检测仪是一种先进的晶圆和掩模检测系统,广泛应用于半导体制造行业。该系统具备多种功能,包括高分辨率成像、自动化分析以及专门的缺...
    型号: 2351 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆检测仪KLA-Tencor掩模检测系统缺陷检测200mm晶圆尺寸
    2025/4/29 9:35:35658
  • 晶圆检测仪 参考价:面议

    KLA-Tencor 2135 晶圆检测仪是一种高duan的掩模和晶圆检测系统,具有多种先进技术和高灵敏度成像功能。以下是其详细规格参数:用途:主要用于图案化晶...
    型号: 2135 厂商性质:经销商所在地:深圳市 对比
    晶圆检测仪KLA-Tencor晶圆检测系统缺陷检测晶片表面映射
    2025/4/29 9:33:11550

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