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X射线镀层测厚仪M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪，结构紧凑、占用空间小。M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数2...
材料可靠性鉴别（PMI）在精炼或其它要求在高温高压下作业的行业中，工作人员需要对合金材料是否合格以及用料规范进行常规严格检测。据统计，一些精炼厂事故是由金属材料...
原子力显微镜探针(AFM探针)一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域，逐渐发展成为重要的、多功能材的材料...
镀层测厚仪M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的元素。分...
手持式废旧金属分析仪手持式荧光光谱仪就是好的手持式废旧金属分析仪器，是质量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、土壤环境检测，矿石分析、混料识别、废料分拣（R...
光学轮廓仪ContourGT-XContourGT-X布鲁克光学轮廓仪是白光干涉仪，可用于眼科镜片、医疗器械、高亮度LED、半导体器件、TSV、太阳能电池片、汽...
手持式矿石分析仪布鲁克手持式矿石分析仪是Bruker公司的手持式XRF矿石分析仪，对矿石中含有的元素及其含量分析的仪器。无需真空盒氦气保护。
手持式rohs分析仪S1TITAN600与800号可对无铅产品进行检测，也可检测RoHS合规性，以及玩具和消费产品中的重金属。且对铅（Pb）、汞（Hg）、铬（C...
水质重金属分析仪全反射X射线荧光法。用这种方法检测，不需要复杂的前处理步骤，其次检测速度快，精度高，可达0.1PPb，而且仪器体积小，可以直接带到现场去检测，是...
三维光学轮廓仪表面轮廓仪用于加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。融合了表征、可定制选
台阶仪-表面轮廓仪德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十...
探针式轮廓仪Dektak XTL探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。
手持式合金分析仪质量控制(QA/QC),材料分析（PMI）,混料识别,废料分拣(Recycling),牌号识别(Grade ID)等领域检测设备。
微区X射线荧光成像光谱仪PLUSM4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS是能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
便携台式xrf分析仪便携式XRF分析仪适用于在实验室内外检测固体,粉末和液体.虽然手持式XRF轻便灵活,适合进行现场检测,但是,当需要对样品
TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOXTXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元...
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
科研手持XRF光谱仪TRACER 5gTRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器，石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口。
手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪.采用了布鲁克公司的，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采...
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