原子力显微镜探针/AFM 返回列表页

原子力显微镜探针(AFM探针),是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域，逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征

    布鲁克（BRUKER）探针为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

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