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PHI X-tool 飞行时间二次离子质谱仪一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片只一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面,被质量分析器探测出来对于...
美国PHI 高性能飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS 中,根据分子结构反映的质谱,能更详细的对化学结构进行分析。
PHI X射线光电子能谱仪PHI Genesis 500是新一代配置了全自动多功能扫描聚焦X 射线光电子能谱,易操作式多功能选配附件,能够实现全自动样品传送停放...
飞行时间二次离子质谱仪PHI nano TOF3+,先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力,更加出色的分析精度详细介绍PHI nanoTOF3+ ...
俄歇电子能谱仪PHI公司的PHI 710扫描俄歇纳米探针是一台设计的高性能的俄歇电子能谱(AES)仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元...
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