X射线镀层测厚仪 返回列表页

产品品牌：Bruker

产品型号：M1 ORA

X射线镀层测厚仪

M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪，结构紧凑、占用空间小。

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的元素。
上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。

样品尺寸大可达100×100×100mm，无需处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。

采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多，分析结果越准确。可以检测含量在0.005的元素

基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的元素。

珠宝、黄金、贵金属分析

X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析，同时能够得到高准确度测试结果的分析方法

由于珠宝首饰件通常都小，又有些是采用不同贵金属组合，X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点。

行业应用：

X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列，可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素

黄金成分范围0.35（8克拉/K）~（24克拉/K）

适用于：白金、黄金、铂合金、银合金