安捷伦科技（中国）有限公司
使用 Agilent 5800 FACT 技术测定钕铁硼中的杂质元素
检测样品：钕铁硼
检测项目：稀土元素
方案概述：本文介绍了一种采用 Agilent 5800 ICP-OES 结合快速自动曲线拟合技术 (FACT) 准确测定钕铁硼中稀土杂质元素的方法。该方法借助 FACT，能够有效去除稀土元素之间的谱线干扰；经模型校正后的所有元素校准曲线的相关系数均高于 0.999，且 13 种稀土杂质元素的加标回收率在 90.4%–111.3% 之间。
钕铁硼作为高性能永磁材料，广泛应用于新能源汽车、风电设备、电子信息、航空航天等领域，是支撑节能环保、高端制造和新兴产业发展的关键基础材料，其性能优劣直接影响终端产品的能效与核心竞争力。钕铁硼的磁性主相是 Nd2 Fe14 B，稀土杂质 （例如 Pr、Sm、Dy 和 Gd 等）会以“原子替换”形式破坏主相结构，导致磁性能发生不可逆的下降；且杂质元素含量的波动还会干扰钕铁硼的熔炼和烧结等关键工艺，导致产品良率骤降。因此，对钕铁硼中的稀土杂质元素进行准确定量至关重要。
《钕铁硼合金化学分析方法》(XB/T 617)[1] 中的第一法为电感耦合等离子发射光谱法 (ICP-OES)。在测试过程中，由于稀土元素发射的特征谱线数量多且波长接近，因此这些元素极易相互干扰，影响准确定量。
本文介绍了一种采用 FACT 模式消除稀土元素间谱线干扰的方法。该方法改善了 ICP-OES 分析钕铁硼中稀土元素的准确度和检出限，为钕铁硼材料的高效质量管控提供了可靠的技术支撑。
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