非标定制 | 根据客户需求定制 |
---|
去胶清洗机是半导体制造、光伏产业及光学加工中用于去除光刻胶(正胶/负胶)及工艺残留物的关键设备。光刻胶在曝光、显影后,需清除以避免污染后续制程(如蚀刻、镀膜)。该设备通过化学腐蚀、物理清洗(超声/兆声波)及等离子灰化等技术,高效剥离胶层,同时保障基底材料(如硅片、玻璃、金属)的表面完整性和洁净度。
核心技术原理
化学去胶工艺
原理:O₂ Plasma产生高能粒子,氧化光刻胶为CO₂和H₂O,适用于厚胶层或复杂图形。
参数:功率100-500W,氧气流量50-200sccm,时间5-30分钟。
正胶去除:常用ACE溶液(丙酮:乙醇:DI水=5:1:1)或NMP(N-甲基吡咯烷酮),溶解未硬化的光刻胶。
负胶去除:需强极性溶剂(如DMSO)或氧等离子体氧化分解,因负胶交联度高。
参数控制:温度(20-60℃)、浸泡时间(5-15分钟),避免基底腐蚀。
湿法腐蚀:
等离子灰化:
物理清洗技术
优势:高频(>800kHz)非接触式微射流冲刷,精准去除亚微米级残留,保护图形完整性。
应用:封装、TSV(硅通孔)等高密度结构清洗。
作用:低频(25-40kHz)空化效应剥离胶层,适用于大面积或厚胶残留。
局限性:可能损伤微结构,需控制功率(50-200W)和时间(<10分钟)。
超声波清洗:
兆声波清洗(Megasonic):
复合工艺
湿法+等离子结合:先化学溶解大部分胶层,再通过氧等离子灰化残留碳化物。
超声+兆声波协同:低频超声粗洗,高频兆声波精细处理,提升效率与均匀性。
设备结构设计
清洗槽体
材质:耐腐蚀性材料(PTFE、PFA、石英),避免化学污染。
结构:多槽模块化设计(如6-12槽),分阶段实现“化学腐蚀→超声→漂洗→干燥”。
化学液分配系统
自动配比:在线监测溶剂浓度(如NMP纯度>99.5%),实时补充或更换。
温控模块:PID加热(20-80℃),满足不同溶剂的活性温度需求。
等离子发生器
类型:电容耦合(CCP)或电感耦合(ICP),支持O₂/Ar/N₂混合气体。
均匀性:电极布局优化,确保晶圆表面灰化速率一致(±5%偏差)。
干燥单元
旋干(Spin Dry):高速旋转(3000-6000rpm)甩干溶剂,适用于平面基底。
氮气吹扫(N₂ Blow):高纯氮气(99.999%)快速干燥,防止氧化或静电吸附。
IPA置换干燥:异丙醇(IPA)替换溶剂后挥发,实现干燥,避免水渍残留。
关键工艺参数
工艺步骤 | 参数范围 | 控制要点 |
---|---|---|
ACE浸泡 | 温度30℃,时间10分钟 | DI水电阻率>18.2MΩ·cm,防止颗粒沉积 |
氧等离子灰化 | 功率300W,O₂流量100sccm,15分钟 | 腔室压力100-300mTorr,避免基底过热 |
兆声波清洗 | 频率1MHz,功率50W,时间5分钟 | 微射流覆盖均匀,避免局部过强 |
DI水漂洗 | 8级水槽,电阻率>18.2MΩ·cm | 逐级检测电导率,避免交叉污染 |
热风干燥 | 温度120℃,时间10分钟 | 风速<5m/s,防止颗粒二次吸附 |