超声波可以清洗晶圆,且在半导体制造中是一种重要且广泛应用的清洗技术。以下是其适用性、原理及关键技术要点:
1. 超声波清洗晶圆的可行性
核心原理:
超声波通过换能器在清洗液中产生高频振动(通常25-40kHz),形成“空化效应”。微小气泡在负压下膨胀破裂,释放高能冲击波和微射流,剥离晶圆表面的颗粒、有机物及金属污染物。
优势:
高效去污:可深入晶圆表面细微结构(如图案化区域),去除亚微米级颗粒和化学残留。
非接触式清洗:避免机械摩擦对晶圆表面的损伤,适用于脆性硅片或光刻图案。
温和条件:通过调整频率、功率和时间,可在不破坏晶圆特性的前提下实现深层清洁。
2. 关键技术参数与工艺设计
(1)频率选择
典型范围:25-40kHz(高频更温和,适合精密结构);低频(如20kHz)可能用于重污染清洗。
作用:高频超声波可精准控制能量,减少对晶圆边缘或薄弱区域的损伤。
(2)清洗液匹配
常用溶液:
去离子水(DI Water):基础漂洗,去除颗粒残留。
酸性/碱性溶液:如SC-1(NH₄OH/H₂O₂)或SC-2(HCl/H₂O₂),配合超声波增强化学反应。
氟化物溶液(如DHF):去除自然氧化层,需严格控制浓度以避免腐蚀。
要求:清洗液需与晶圆材料兼容,避免引入二次污染(如金属离子)。
(3)工艺步骤
预清洗:兆声波+DI水初步去除颗粒。
化学清洗:超声波结合SC-1/SC-2溶液,分解有机物和金属污染物。
漂洗:多级DI水超声漂洗,去除化学残留。
干燥:氮气吹扫或IPA置换干燥,防止水渍残留。
3. 注意事项与局限性
潜在风险:
表面损伤:若频率过低或时间过长,空化效应可能产生微裂纹或划痕。
颗粒二次沉积:清洗后需立即漂洗,避免脱落颗粒重新附着。
设备要求:
清洗槽需采用耐腐蚀材料(如PFA、PTFE),并配备恒温系统(温度控制≤60℃)。
需定期维护换能器,避免振动不均匀导致局部清洗失效。
超声波清洗是晶圆清洗的核心技术之一,通过空化效应实现高效、无损的深层清洁。其成功应用依赖于频率调控、清洗液匹配和工艺优化,同时需结合兆声波、化学湿法和干燥技术,确保晶圆表面洁净度和完整性。
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