半绝缘电阻率通常介于1-1000欧姆·厘米之间，是描述半绝缘材料导电性能的关键参数。这种材料在电子工业中应用广泛，特别是在制造半导体器件、绝缘层和光电...

玻璃领域 半导体玻璃的电阻率及某些物理化学性质在光、电、热等作用下可发生显著改变，从而赋予其的性能。半导体玻璃已广泛应用于光电倍增器、存储器件、电子开关等领域。

氧化镓电阻率方阻测试仪：Ga2O3是一种透明的氧化物半导体材料，在光电子器件方面有广阔的应用前景，被用作于Ga基半导体材料的绝缘层，以及紫外线滤光片。它还可以用...

碳化硅电阻率方阻测试仪：1、电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内：几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρ0（1+at...

非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含一个涡流传感器组，感应弱电流到导电薄膜和材料。非接触式薄膜方块电阻测量仪试样中的感应电流产生与测量对象的片电阻相关的电磁...

晶锭涡流法电阻率测试仪：电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种物质所制成的原件(常温下20°C)的电阻与横截面积的乘积与长度的比值叫做这种物质...

‌‌涡流法方阻测试仪的方阻是指一个正方形‌薄膜导电材料边到边的电阻‌，也称为方块电阻或‌膜电阻。方阻是衡量薄膜状导电材料（如‌蒸发铝膜、‌导电漆膜、印制电路板铜...

涡流法‌电阻率方阻是一种利用电磁感应原理进行检测的方法。当载有交变电流的试验线圈靠近导体工件时，会产生交变磁场，进而在工件中感生出密闭的环状电流，即涡流。涡流的...

设备主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的方阻（电阻率）。可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，可用于材...

涡流法电阻率测试仪的样品尺寸：2“-8“或者16mm×16mm的方形样品；迁移率测量范围：100-20000（cm2/v.sec)；方块电阻测量范围：...