KLA Filmetrics F50薄膜厚度测量仪采用自动化R-Theta平台，支持标准和定制化样品夹盘，最大样品直径达450毫米，能高效测绘薄膜厚度。该设备适...

KLA Filmetrics F40薄膜厚度测量仪通过将显微镜转变为薄膜测量工具，实现小至1微米光斑的厚度和折射率测量。该设备配备集成彩色摄像机，可在1秒内完成...

KLA Filmetrics F30薄膜厚度测量仪通过实时监控沉积过程，提供高精度、快速且非侵入式的测量解决方案，适用于多种半导体和电介质材料。其主要特点包括提...

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪系列，涵盖近红外光波长范围980 nm、1310 nm及1550 nm，能够测量从15纳米至3毫米的薄膜厚...

KLA Filmetrics F3-CS快速厚度测量系统专为微小视野及样品设计，支持快速、简易的厚度测量，适用于聚对二甲苯和真空镀膜层等。其具备自动校正功能，可...

KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪通过同时测量反射和透射光谱，实现真空镀膜的快速、精确分析。该设备价格合理，具备分析、FWHM确定及颜色分...

KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪是一款专为测量单层和多层硬涂层设计的仪器，基于F20平台，采用光谱反射分析技术，提供快速准确的测量结果。...

KLA Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统;经济实惠的膜厚仪系列在几秒钟内就能完成高精度的薄膜厚度测量。这些易于使用的仪器与智能软件和一系列附件和...

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度测量仪便携式反射仪带有内部光纤，利用具有长寿命、低功率光源可以测量曲面上的减反射涂层厚度。以极低的价格在几秒...

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度测量仪便携式反射仪带有内部光纤，利用具有长寿命、低功率光源可以测量曲面上的减反射涂层厚度。以极低的价格在几秒钟...