微波探测光致电流瞬态谱仪采用微波技术探测材料的光生电流瞬态光谱值,非常适合温度依赖的少子寿命测量和半导体界面陷阱。

单点少子寿命测量仪系统是经济型晶圆寿命测量仪器,对不同制备阶段的硅材料电学参数进行表征。

太阳能电池发光成像检测系统是为太阳能面板电致发光检测和光致发光检测设计的硅片发光检测成像系统,广泛用于太阳能硅片缺陷检测，可用于在从*黑暗到*阳光照射的环境条件...

C-V/I-V特性测试仪是为半导体C-V特性分析测试和I-V特性测试分析设计的C-V/I-V测试系统。

量子效率测量系统是为晶体硅太阳能电池IQE内量子效率测量分析设计的内外量子效率测试测量系统,也可以测量EQE外量子效率和光谱反射。

这款四探针电阻率仪是采用四点探针测量电阻率技术的四探针电阻率测试仪。自动测量晶圆电阻率,探针头方便更换,探针头由软件可识别,探针半径0.25mm,软件自动计数,...