AXXIS® AT30 电解式镀层测厚仪

AXXIS® AT30型电解测厚仪是库仑测厚技术的革命，超越传统的测厚仪器，成为覆层厚度、性能的综合测试仪器。

电解测厚仪主要特点：

1. 测量数据数字化储存、图形显示、准确、直观、测量精度高。

2. 超过三十种以上的可测量镀层，以及所有导电性镀层。

3. 丝状线材和其他异型底材镀层。

4. 实时动态显示电位变化曲线，可以识别和测量合金层或其他中间层。

5. 自动详细分析多层镍等类似镀层的电位差值及厚度，评价其耐腐蚀性能。

6. 测量多层镍无需三电极系统，不用X-Y记录仪，仪器更可靠，使用更方便。

7. 能分辨不同成分的镀层，评价镀层的均匀性，进而判定镀液的状况、添加剂的性能。

8. 监视测量是否准确，详细分析测量数据，选择打印测量曲线和标准格式报告。

9. 测量数据便于*保存，随时调用，可以利用其他软件进行数据处理。

10. 操作简便、迅速，无需记忆测量种类代码等，仪器可以自行检定。

11. 软件免费升级，测量镀层种类不断增加。

12. 根据用户要求定制软件或增加特别硬件。

电解测厚仪新增功能：

1. 自动识别计算机操作系统，无须手动选取。自动识别可用的通讯接口。

2. 可以选择公制或英制单位，超小量程可测量超薄镀金和其他超薄镀层。

3. 可通过USB接口联接，LED指示USB和RS232联接状态和工作状态。

4. 虚拟数码管面板，无需再观察仪器数码显示，操作更方便。

5. 手动设置电流、电位、系数等参数，解决了因环境温度、电镀工艺及添加剂的变化导致的无法测量或测量不准确，便于生产和科研使用。

6. 1mm小直径测量头，可测量小型工件。

7. 免费为您增加一台0-5V量程电脑X-Y记录仪，数据记录、处理便利。（仪器作为记录仪）

测量范围和精度：0.01um~50（100）um，≤±10%

符合ISO2177-2003、GB/T4955-1997、ASTM B504-90（2002）、B764-94（2003）（STEP）和国家标准。