AT12 涂层测厚仪
参考价 | ¥ 11 |
订货量 | ≥1 |
- 公司名称 格林博尔电子(深圳)有限公司
- 品牌
- 型号 AT12
- 产地 中国
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2016/6/7 22:46:02
- 访问次数 353
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AXXIS® AT12涂层测厚仪
涂镀层测厚仪特点:采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
可使用10种测头(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10);
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能:可存贮495个测量值;
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
具有电源欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示;
设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;
AXXIS® AT12涂层测厚仪技术参数表
测头型号 | F400 | F1 | F1/90° | F5 | F10 | ||||||||||
工作原理 | 磁 感 应 | ||||||||||||||
测量范围(um) | 0~400 | 0~1250 | 0~5000 | 0~10000 | |||||||||||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | |||||||||||
示值 误差 | 一点校准(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+5) | ±(3%H+10) | |||||||||||
二点校准(um) | ±((1~3)%H+0.7) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+5) | ±((1~3)%H+10) | |||||||||||
测 试 条 件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 | ||||||||
zui小面积的直径(mm) | F3 | F7 | F7 | F20 | F40 | ||||||||||
基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 1 | 2 | ||||||||||
测头型号 | N400 | N1 | N1/90° | CN02 | N10 | ||||||||||
工作原理 | 涡 流 | ||||||||||||||
测量范围(um) | 0~400 | 0~1250 | 10~200 | 0~10000 | |||||||||||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | |||||||||||
示 值 误差 | 一点校准(um) | ±(3%H+0.7) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ±(3%H+25) | ||||||||||
二点校准(um) | ±[(1~3%H+0.7) | ±[(1~3)%H+1.5] | ___ | ±((1~3)%H+25) | |||||||||||
测 试 条 件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 | 1.5 | 3 | 平直 | 仅为平直 | 25 | ||||||||
zui小面积的直径(mm) | F4 | F5 | F5 | F7 | F50 | ||||||||||
基体临界厚度(mm) | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 无限制 | 5mm铝箔 | ||||||||||
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注:H——标称值
涂镀层测厚仪测头选用参考表
覆盖层基体 | 非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等) | ||
覆盖层厚度不超过100um | 覆盖层厚度超过100um | ||
如 铁、钢等磁性金属 | (平面测量时)被测面积的直径大于30mm | F400型测头 0~400um | F400型测头 0~400um F1型测头 0~1250um F5型测头 0~5mm F10型测头 0~10mm |
被测面积的直径 小于30mm | F400型测头 0~400um F1型测头 0~1250um | F400型测头 0~400µm F1型测头 0~1250um | |
如铜 、铝 、黄铜 、锌 、 锡 等 有色金属 | 被测面积的直径 大于10mm | 仅用于铜上镀铬 N400型测头 0~40um | -------- |
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塑料、印刷线路非金属基体 | 被测面积大于7mm | CN200型测头10~200um | CN200型测头10~200um |
基本配置:(特殊探头的选配请参照:选配探头参数)
AT12主机机 1台
F1或N1测头 1支
校准标准片 1套
电池 2个
手提密码箱 1个 合格证,保修卡,说明书等文字资料
通讯电缆 1个 软件 1个
AXXIS® AT12符合以下标准:
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》