XRF2000 X射线镀层测厚仪

产品介绍

X射线膜厚仪是利用XRF原理来分析镀层厚度及物质成分，可用於材料的涂层/镀层厚度、材料组成分析。请登录www.axxistek.com了解详情

X荧光测厚仪的应用 :
测量镀金、涂层、薄膜厚度或元素含量，其可侦测元素的范围： Ti（22）~U（92 ）。
行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。

XRF-2000 系列X荧光测厚仪分为以下三种：
1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。
3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。

X射线镀层测厚仪特色 :
非破坏，非接触式检测分析，快速精準。
可测量高达六层的镀层 （五层厚度 + 底材 ） 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。
全系列*设计样品与光径自动对準系统。
标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。

光学2 0X 影像放大功能，更能精确对位。

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。
*2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。