功率器件分析仪B1506A 参考价：面议
是德科技功率器件分析仪B1506A提供完整的电路设计解决方案，实现对车规级大功率半导体的高效安全的测试验证
半导体器件参数分析仪 参考价：面议
Keysight B1500A半导体测试设备, 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪，能够测量 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数。 主机和插入式模块能...
全自动芯片ESD测试设备 参考价：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自动静放电测试设备近年来，自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的超前先进技术，解决自动驾驶技术的关键在于提升...
光感测器量子效率测量仪 参考价：3000000
随着5G与移动设备的兴起与普及，越来越多新型光传感器被应用于我们的日常生活中。 为了能更好的应用在移动设备上，这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。 但这些应...
GP200-8英寸手动探针台 参考价：面议
GP200包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。
8英寸高低温探针台 参考价：面议
GP200SE包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。GP20...
硅光探针台 参考价：面议
GP200-SIP系列8英寸探针台包含硅光芯片的DC&RF&OO测试所需的完整配置，在最短时间内可准确地完成芯片的参数测试与提取。GP200拥有稳定且可靠的测试...
GP半自动探针台 参考价：面议
GP2000探针台，GP2000-SE 高低温探针台。机台可轻松实现DC ~ THZ测量，提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案可应用于I-V/C-V/...
GP300探针台 参考价：面议
大功率探针台,GP300探针台让您的芯片测试更加简单，机台可轻松实现DC ~ THZ测量，提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。
毫米波测试网分仪 参考价：面议
N5290A和N5291A 是毫米波矢量网络分析仪（VNA）解决方案的主要配置之一。 这两个系统均对硬件和选件进行了全面配置，以支持宽带S参数测量。附加测量应用...
高清晰度示波器 参考价：面议
高清晰度示波器8 GHz带宽4个模拟和16个数字通道借助我们先进的系统架构，实现高达16位的垂直分辨率以最大20 GSa / s的采样率和100 Mpts /通...
波形发生器 参考价：面议
是德高性能任意波形发生器使用低噪声时钟，可以提供性能和高质量的信号生成，以实现信号保真度。无论您需要台式设备或者直接在系统中应用的 AXIe、LXI 或 PXI...
频谱仪 参考价：面议
· 使用各种硬件平台满足不断变化的测试需求—无论是研发领域追求的最高性能，还是制造环节恰到好处的性能· 利用业界*泛的特定频谱分析软件，实施...
信号发生器（信号源） 参考价：面议
· 拥有最多信号发生器的型号可供选择，并且每个型号的性能都同类产品，因此无论您需要可追溯的计量级解决方案，还是需要经济高效的基础型信号发生器，是德科技...
PNA-X 脉冲网络仪 参考价：面议
PNA-X 脉冲网络仪使用 PNA-X/PNA/PNA-L 可以获得功能和性能（频率高达 120 GHz，通过频率扩展器可以进一步扩展到 1.5 THz）
ZEISS 光学微光显微镜 参考价：面议
emmi微光显微镜,ZEISS 光学微光显微镜产品特点：具有优化的操作理念。拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统。 基于“向前看"理念的升级设计。
扫描电镜 参考价：面议
扫描电镜拥有高品质成像和先进分析功能的场发射扫描电子显微镜 Sigma 系列扫描电
半导体场发射扫描电镜 参考价：面议
GeminiSEM 560 引进了 Gemini 3 型镜筒，创下了表面成像技术新高度。 Smart Autopilot 这一新型智能自动光路调节引擎是为方便您...
半导体光学显微镜和共聚焦显微镜 参考价：面议
半导体光学显微镜和共聚焦显微镜凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体在片测试解决方案、材料电性能测试设备、微波射频器件测量等测试技术服务。
德国进口晶圆光学检测设备 参考价：面议
晶圆探针台,晶圆光学检测设备凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体在片测试解决方案、材料电性能测试设备、微波射频器件测量等测试技术服务。
欧洲进口X射线检测系统 参考价：面议
凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体测试系统解决方案。YXLON X射线检测机被设计用于为SMT，半导体和实验室封装应用领域提供同级别产品中...
芯片封装焊接强度测试仪 参考价：面议
芯片封装焊接强度测试仪凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体在片测试解决方案、材料电性能测试设备、微波射频器件测量等测试技术服务。
HANWA ESD测试全部设备简介 参考价：面议
芯片ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。HED-W5000M...
HANWA HED-C5000R CDM测试设备 参考价：面议
适用于汽车芯片可靠性测试AEC标准中~静电CDM测试设备
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