EDX8000T PLUS 参考价：面议
Simply The Best微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计，可分析不规则样品厚度高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量高分辨率...
镀层测厚光谱仪 参考价：面议
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针...
膜厚仪X射线镀层测厚仪 参考价：100000
膜厚仪X射线镀层测厚仪EDX8000T膜厚仪EDX-8000T 型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪Simply The Best垂直光路设计，专为镀层厚度分析而设...
X射线镀层测厚仪 参考价：面议
X射线镀层测厚仪EDX8000T PLUS微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量高分辨率样品观测系...
EDX-8000B光谱膜厚仪 参考价：面议
EDX-8000B型XRF镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上...
XRF镀层测厚仪 参考价：面议
XRF镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所...
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