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EDX8000T PLUS 参考价：面议
Simply The Best微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计，可分析不规则样品厚度高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量高分辨率...
镀层测厚光谱仪 参考价：面议
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针...
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