分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3 参考价：面议
●非接触式、非破坏性光学式膜厚检测●采用分光干涉法实现高度检测再现性●可进行高速的即时研磨检测●可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测●可对应长工作距离、且容易安裝...
光波场三维显微镜 MINUK 参考价：面议
MINUK是一种可以评估纳米量级的透明异物和缺陷的设备，可以单次获取高度方向的信息，并且可以无损、非接触、非侵入性地进行测量。此外，还可以高速扫描任何表面并确定...
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE 参考价：面议
本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSEneoSE 参考价：面议
● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位● 可以测量从稀薄...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo 参考价：面议
ELSZ series的最zu高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量·ELSZ-2000ZS 参考价：面议
●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 参考价：面议
利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300 参考价：面议
●Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成●实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐●支持半导体工艺的高吞吐量要求●支持槽口对齐功能●小尺寸规格●高精度自...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统 参考价：面议
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。
显微分光膜厚仪 参考价：面议
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：•绝.对反射率测量•多层膜解析•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
荧光量子效率测试系统 参考价：面议
QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散...
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