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首页>>上海波铭科学仪器有限公司>>产品展示>>光学测试系统>>半导体晶圆缺陷检测仪

  • 半导体晶圆缺陷检测仪 参考价:面议

    半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术,通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具,为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。
    型号: 厂商性质:生产商所在地:上海市 对比
    晶圆缺陷检测仪半导体晶圆缺陷晶圆半导体晶圆缺陷
    2024/5/10 11:02:502679

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