首页>>上海波铭科学仪器有限公司>>产品展示>>光谱系统
高速相位差测量装置 RE-200 参考价：面议
● 可测从0nm开始的低（残留）相位差● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)（相当于世界jie最zui快速的0.1秒以下来处理）● 无驱动部，重复再现性高●...
高速LED光学特性仪 LE series 参考价：面议
●与产线的控制信号同步●通过光纤的自由的测试系统●实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400）●同以往的产品相比，测量演算评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型
高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 参考价：面议
可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。
高感度分光辐射亮度计 HS-1000 参考价：面议
采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅），0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可测量，对应CIE推荐的宽波长范围...
量子效率测量系统 QE-2100 参考价：面议
测量精度高可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率）可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系统
膜厚量测仪 FE-300 参考价：面议
薄膜到厚膜的测量范围UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪藉由绝对反射率光谱分析膜厚完整继承FE-3000高gao端机种90%的强大功能无复杂设定，操...
膜厚测量系统 FE-3700/5700 参考价：面议
可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
线扫描膜厚仪（离线型） 参考价：面议
●全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测●硬件&软件均为创新设计●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援●实现高精度测量（已取得专zhuan利）●实现高速测量...
线扫描膜厚仪（在线型） 参考价：面议
●采用线扫描方式检测整面薄膜●硬件&软件均为创新设计●作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援●实现高精度测量（已获取专zhuan利）●实现高速测量●不受偏差影响●可...
紫外分光配光测量系统 参考价：面议
●通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量●从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量●涵盖从紫外线到可见光的波长范围●支持从 LED 芯片到模块和应...
紫外分光辐射照度测量系统 New 参考价：面议
●该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。●覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围●带软件的样品照明电源，测量仪器...
紫外分光全光谱光通量测量系统 参考价：面议
●具有高灵敏度检测器的宽测量范围●具有紫外线自吸收校正的高精度测量●配备温度控制单元，可从-110°C进行温度控制●涵盖从紫外线到可见光的波长范围●电源...
相位差测量装置 RETS-100nx New 参考价：面议
采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
液晶层间隙量测设备 RETS series 参考价：面议
采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
椭偏仪 FE-5000/5000S 参考价：面议
●可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数●可分析纳米级多层薄膜的厚度●可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱●通过可变...
总光谱光通量测量系统 HM/FM series 参考价：面议
●可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量●测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准●采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量●测量部分的尺寸（积...
彩色滤光片、光刻胶测量装置 LCF SERIES 参考价：面议
以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置
嵌入式膜厚检测仪 参考价：面议
● 采用分光干涉法● 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专zhuan利 第4834847号）● 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统● 可嵌入至各种制造设备。● 实时测...
小角激光散射仪 PP-1000 参考价：面议
PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称SALS），可以对高分子材料和薄膜进行原位检测，...
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800 参考价：面议
以最zui高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出最适shi合的方案。 不同评价方法对应不同设备
多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA 参考价：面议
nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了...
粒子径测量系统 nanoSAQLA（带AS50） 参考价：面议
●1个单元可轻松连续测量5个样品。●实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。●标准测量时间为1分钟的高...
分光配光测量系统 GP series 参考价：面议
●支持长达 2400 毫米的 LED 照明灯具的光分布测量●还支持有机EL和大型显示器的光分布测量●可以自动控制2轴测角仪测量每个角度的光谱分布，并通过球带系数...
分光辐射照度测量系统 参考价：面议
该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围
5