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分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3 参考价：面议
●非接触式、非破坏性光学式膜厚检测●采用分光干涉法实现高度检测再现性●可进行高速的即时研磨检测●可穿越保护膜、观景窗等中间层的检测●可对应长工作距离、且容易安裝...
光波场三维显微镜 MINUK 参考价：面议
MINUK是一种可以评估纳米量级的透明异物和缺陷的设备，可以单次获取高度方向的信息，并且可以无损、非接触、非侵入性地进行测量。此外，还可以高速扫描任何表面并确定...
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSZneoSE 参考价：面议
本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。
ZETA电位 · 粒径测试系统·ELSEneoSE 参考价：面议
● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位● 可以测量从稀薄...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo 参考价：面议
ELSZ series的最zu高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量·ELSZ-2000ZS 参考价：面议
●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 参考价：面议
利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
Load Port对应膜厚测量系统 GS-300 参考价：面议
●Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成●实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐●支持半导体工艺的高吞吐量要求●支持槽口对齐功能●小尺寸规格●高精度自...
半导体晶圆缺陷检测仪 参考价：面议
半导体晶圆缺陷检测仪利用亮场和暗场显微成像技术，通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具，为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案。
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统 参考价：面议
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位･粒径及分子量。
光电流测试 参考价：面议
光电流测试是一种用于测量器件或材料的光电性能的测试方法，主要应用于半导体器件、光电器件、太阳能电池等领域。
便携式拉曼光谱仪 参考价：面议
AMOS RU120基本紧凑便携式拉曼光谱仪是一款独立的研究仪器，旨在进行光谱测量，其能力达到*端系统的水平。 RU120采用刚性无活动部件设计，无需调整，具有...
高光谱测试系统 参考价：面议
高光谱测试系统基于offner型的凸面光栅分光系统，其原理新颖，相比较其他分光系统具有光学相对孔径大、色散线性度好、结构 紧凑和图像成像质量佳等优点。
显微分光膜厚仪 参考价：面议
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目：•绝.对反射率测量•多层膜解析•光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
瞬态吸收系统 参考价：面议
超快pump-probe 瞬态吸收系统 TA100：该系统设计和飞秒激光相结合， 用于检测样品中的超快激发态或光生载流子电荷的动力学过程。TA100为“ 一站式...
太阳能电池量子效率测试系统 参考价：面议
太阳能电池量子效率测试系统•Oriel 的 QEPVSI-b 是用于测量量子效率 （QE）（也称为入射光子到电荷载流子效率 （IPCE）） 的预配置而灵活的解决...
太阳光模拟器 参考价：面议
Oriel Sol3A 太阳光模拟器采用单灯设计，满足全部 3A 级性能标准，而不影 响其 1 个太阳光强输出功率。按照惯例，AAA 级的第.一个字母代表光谱匹...
光电流成像 参考价：面议
光电流成像是一种用于表征材料或器件的光电特性的成像技术。该技术通过在器件或材料表面照射光源，并测量其产生的电流信号，来获得材料或器件的空间分布信息。
探测器光谱响应测试系统 参考价：面议
S-DSR探测器光谱响应测试系统• 宽光谱范围（200~14000nm可选），适用面广• 调制法测量技术，提升测量结果信噪比• 开机即用的Turnkey系统设计...
光谱变温附件/探针台 参考价：面议
光谱变温附件/探针台THMS600 是使用.为广泛的高精度冷热台。其宽泛的温度范围（-196°C到 600°C）和升温速 率（0.1 到 1...
SERS增强试剂 参考价：面议
波铭科仪销售的多种SERS增强试剂、SERS芯片，均是经过严格反复试验、验证、摸索制备而成，各项性能指标都很优 良，能满足大多数生物分子、染料分子及其他分析物分...
荧光量子效率测试系统 参考价：面议
QE-2000荧光量子效率测试系统瞬间测量绝.对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域 的杂散...
显微荧光成像系统 参考价：面议
S-MPL系列显微荧光成像系统光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半 导体材料的发光特性...
组合荧光系统 参考价：面议
组合荧光系统采用模块化设计，既可实现稳态、瞬态测量，又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择（光源、探测器、样品架、变温模块等）...
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