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汞探针测试 参考价：面议
LEI Model2017B，通过汞探针接触方法，对各类半导体材料的载流子浓度分布进行测试，特别适合GaN.SiC等化合物材料。
汞CV测试系统 参考价：面议
汞CV测试系统，用于对外延或前道工艺中的non-pattemed晶片做汞C-V测试;MCV-530L可测最大200mm的样品。
CV-1500非接触CV测试系统 参考价：面议
CV-1500，用于测试界面和介电层的科研平台，基于SDI Corona-Kelvin技术，可以进行非接触C-V/I-V测试。
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