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SE-PV系列是针对光伏电池片特性专门设计的全光谱椭偏仪,基于旋转补偿器调制技术,一次性获取Psi/Delta、C等偏振信号,能实现光伏行业中绒面和非绒面样品的...
针对LCD、OLED等新型平板显示量产中所涉及的PI配向膜、光刻胶薄膜、ITO薄膜、有机发光薄膜、有机/无机封装薄膜等质量控制需要,专门设计的在线薄膜测量系统。...
针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发,可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析
椭偏检测机台通过整体高度集成技术,实现不同椭偏测量模块在线/离线式整体椭偏测量解决方案。
针对微区图形结构测量定制的专用型光谱椭偏仪
SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成化设计,操作简便,一键快速测量和向导交互式人机界面,具有丰富的材料数据库和算法模型库、强大的数据分析能力。
SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量,支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置,支持多功能模块定制化设...
Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,配置全自动Mapping运动机构,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实...
ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的研发投入,其采用行业前沿的创新技术,包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制...
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