SE-PV系列是针对光伏电池片特性专门设计的全光谱椭偏仪，基于旋转补偿器调制技术，一次性获取Psi/Delta、C等偏振信号，能实现光伏行业中绒面和非绒面样品的...

针对LCD、OLED等新型平板显示量产中所涉及的PI配向膜、光刻胶薄膜、ITO薄膜、有机发光薄膜、有机/无机封装薄膜等质量控制需要，专门设计的在线薄膜测量系统。...

针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析

椭偏检测机台通过整体高度集成技术，实现不同椭偏测量模块在线/离线式整体椭偏测量解决方案。

针对微区图形结构测量定制的专用型光谱椭偏仪

SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成化设计，操作简便，一键快速测量和向导交互式人机界面，具有丰富的材料数据库和算法模型库、强大的数据分析能力。

SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪,可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量，支持多角度、微光斑、可视化调平系统等高兼容性灵活配置，支持多功能模块定制化设...

Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，配置全自动Mapping运动机构，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实...

ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的研发投入，其采用行业前沿的创新技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制...

SR-C 紧凑型高精度反射膜厚仪，利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。

SR-M 针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果。

RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标...

SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，从而测量薄膜的厚度及光学常数。

SRPV100 是一款应用于光伏TopCon产品Poly膜厚在线监控的传感器，紧凑集成化设计，操作简便，通过分析干涉形成的反射光谱，准确表征Poly薄膜厚度、光...

半导体复杂膜层在线量测解决方案。

SR系列膜厚传感器提供快速、稳定的膜厚在线量测解决方案。

IRE-200是一款超高精度的外延层厚度测量设备，利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析，主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度...