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  • SR-C反射膜厚仪

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  • SR-M显微膜厚仪

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  • RT-V反射透射测量仪

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  • SR-Mapping反射膜厚仪

    SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,从而测量薄膜的厚度及光学常数。

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