详细摘要： Photrix 红外测温仪，具有优异的信噪比，测温下限可低至75℃，上限可高达2600℃的数字式高温计。非常适用于闭环控温。

详细摘要： UV 400 测温仪用于GaN基外延的晶圆表面温度和反射率真实测量，温度范围650…1300℃

详细摘要： Photrix 外延片测温仪，具有优异的信噪比，测温下限可低至75℃，上限可高达2600℃的数字式高温计。非常适用于闭环控温。

详细摘要： UV400 GaN基外延片测温仪用于GaN基外延的晶圆表面温度和反射率真实测量，温度范围650…1300℃

详细摘要： Sekidenko OR4000T 红外测温仪可实现两通道多波长测温。其光学系统可依据具体应用选择光纤镜头或者蓝宝石光管。相较于Sekidenko OR4000...

详细摘要： Sekidenko OR4000E 外延片测温仪可实现两通道多波长测温。其光学系统可依据具体应用选择光纤镜头或者蓝宝石光管。相较于Sekidenko OR400...

详细摘要： Sekidenko OR400T 外延片测温仪可根据材料类型和所需温度范围配置波长。可根据具体应用选择光纤镜头或者蓝宝石光管光学系统。

详细摘要： Sekidenko OR400M 外延片测温仪可选波长3.3或5.2μm，具有RS232数字输出和模拟输出接口，适用于薄膜太阳能，玻璃，半导体工艺温度的精确测量...

详细摘要： Sekidenko MXE 外延片测温仪采样速率高达10kHz，并可实时测量反射率和温度，确保了动态测量的精确性。该产品有三种配置，分别为：温度测量；反射率测量...