动态二次离子质谱仪 参考价：面议
动态二次离子质谱仪（D-SIMS）是使用一次离子束（通常是Cs源）轰击样品表面，而产生二次离子，然后用质谱分析仪分析二次离子的质荷比（m/q），从而得知元素在样...
扫描俄歇纳米探针 参考价：面议
PHI 710扫描俄歇纳米探针是一台设计*的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域，超薄薄膜和多层结构材料表界面的元素态和化学态信息。作...
飞行时间质谱仪 参考价：面议
nanoTOF 3+是PHI最新一代的TOF-SIMS，擁有全新外观、紧凑设计，以及更强性能。
PHI 硬X射线光电子能谱仪 参考价：面议
下一代透明发光材料使用直径约为 10nm~50nm 的 纳米量子点（QDs）， 结合使用 XPS（Al Kα X 射线） 和 HAXPES（Cr Kα X 射线...
PHI X射线光电子能谱仪 参考价：面议
XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy),又称ESCA (Electron Spectroscopy for Chemica...
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