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动态二次离子质谱仪参考价：面议
动态二次离子质谱仪（D-SIMS）是使用一次离子束（通常是Cs源）轰击样品表面，而产生二次离子，然后用质谱分析仪分析二次离子的质荷比（m/q），从而得知元素在样...
型号： PHI ADEPT... 厂商性质：代理商所在地：北京市对比

D-SIMS二次离子表面分析PHI材料

2022/3/7 17:24:341925
扫描俄歇纳米探针参考价：面议
PHI 710扫描俄歇纳米探针是一台设计*的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域，超薄薄膜和多层结构材料表界面的元素态和化学态信息。作...
型号： PHI 710 厂商性质：代理商所在地：北京市对比

表面分析俄歇AESPHI

2022/3/7 11:11:44645

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