XRF-中山测厚仪_韩国X光机-深圳市鑫捷伟科技有限公司

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镀层测厚仪

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产品简介

Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。其特点为：雷射自动对焦、全自动XYZ样片台、Point and Shoot 自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、具有竞争力的价格、五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破坏性测厚仪器的*机型。

详细介绍

荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征

可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

中山测厚仪

XRF

DIKMA/迪马科技

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上海市

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