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测厚仪

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更新时间:2017-03-23 11:59:07浏览次数:608

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产品简介

Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。其特点为:雷射自动对焦、全自动XYZ样片台、Point and Shoot 自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、具有竞争力的价格、五个准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性器的*机型。

详细介绍

X光无损非接触测量,只需10-30秒即可获得测量数据,zui小测量面积为直径0.1mm圆面积,测量范围:0-35um,测量误差:5%以内。

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