摘要 

本文介绍了一种使用 ICP-OES 准确测定电池级硫酸锰中杂质元素的方法。该方法具有出 色的检测限、准确度和稳定性，满足杂质元素的分析要求，且分析速度和效率优于传统 分析方法。

前言 

随着全球碳中和时代的到来，锂电池成为近年来迅速发展的新能 源之一，并广泛应用于动力汽车和储能系统中。锂电池在生产过 程中涉及对成品和多种原材料中元素杂质的检测。硫酸锰是锂电 池正极材料中一种重要的原材料，目前中国行业标准《电池用硫 酸锰》(HG/T 4823-2015) 对硫酸锰中各元素杂质提出了限值要求 并规定了检测方法，其中对部分元素采用 ICP-OES、分光光度法 和火焰原子吸收法等[1]。由于锰基体的存在，Pb、Si、Cd 和 Ni 等 元素受到较强的光谱峰干扰。采用分光光度法和火焰原子吸收法 虽然能克服部分谱峰干扰，但存在操作过程繁琐、线性范围窄且 多元素不能同时分析等缺点，对分析结果的准确性和分析效率会 产生一定的影响。 本研究基于 ICP-OES 快速、准确的特点，结合 FACT 快速自动曲 线拟合背景校正技术，开发出一种准确测定 15 种低含量杂质元 素的分析方法。该方法性能出色，可满足杂质日常快速准确分析 的要求。

• Agilent5110ICP-OES

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