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日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型号
  • 产地
  • 厂商性质 代理商
  • 更新时间 2025/2/22 10:45:54
  • 访问次数 140

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联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


公司简介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司经营进出口业务7年有余,位于西南地区四川成都;通过不断努力、进步与各类日本、部分欧美品牌建立长期稳定的合作关系,覆盖电子产品、工具、电子元器件、仪器仪表、防静电设备、辅料、自动化设备、非危险性化工产品、机械设备及配件、通信设备。

成都藤田科技供货渠道

因为长期良好的经营环境,获得国内外客户与商社的喜爱,随着互联网的发展建立了专有的网络模式MRO;

坚持以服务客户为主的经营理念、追求客户满意服务为宗旨、礼貌诚信为原则提供客户服务,并以成为客户值得信赖的工业品综合服务商为目标。

MRO两种形式

  1. 超市建立工业品专柜,大型超市也会经营部分工业品,但种类和数量有限。

  2. 网上工业品超市,这种形式配送可为客户大规模找寻产品,使供应商和采购商都实现“进入一个点,得到一大片”连锁效应,有效降低采购商采购成本。

代理品牌:

  1. 日本MUSASHI武藏(点胶机

  2. 日本HOYA豪雅 (UV固化灯,玻璃镜片)

  3. 日本SIGMAKOKI西格玛 (光学元件、物镜等)

  4. 日本YUMEX优美科思(各种疝气灯)

  5. 日本TOKISANGYO东机产业(粘度计

  6. 日本KANOMAX加野(风速仪)

  7. 日本YAMADA雅玛达(隔膜泵)

  8. 日本EPSON爱普生 (机械臂)

  9. ATTEN安泰信 (焊接产品)

  10. 日本TSUBOSAN壶三(锉刀工具)

  11. 日本sakurai樱井(无尘纸

  12. 韩国DIT东日技研(除静电产品)

  13. 韩国HANIL韩一(搅拌机)

优势品牌:

  1. 日本Otsuka大塚电子(晶圆、覆膜测厚仪)

  2. 日本FLUORO福乐(用于晶圆的搬运)

  3. 日本AND艾安得(微量电子 分析天平)

  4. 英国Meech密其(非接触式除尘系统)

  5. 日本SSD西西蒂(防静电设备)

  6. 日本NEW-COSMOS 新宇宙(气体检测仪

  7. YIZOMO一子沫(拉拔机)

  8. 日本FURUPLA富如拉(喷壶)

  9. 日本PISCO匹士克(气动元件

  10. 日本TECHNO特古罗(锡炉)

  11. 日本AMANO安满能(除尘设备)

  12. 日本MALCOM马康(粘度计)

  13. 日本HOZAN宝山(镊子、钳子等工具)

  14. 日本MITUTOYO三丰 (测量器具)

  15. 美国SIMCO思美高(防静电、除尘产品);

成都藤田科技为广大客户提供一体化、全面、优质高效服务。

 

 

 

进出口业务,日本武藏点胶机,日本豪雅检测光源,海康视觉成像,安泰信焊锡设备

产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 综合

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统

产品信息

  特点

● Φ支持到300mmEFM单元备用端口的集成

● 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐

● 支持半导体工艺的高吞吐量要求

● 支持槽口对齐功能

● 小尺寸规格

● 高精度自动校准单元


  测量示例

TSV嵌入式图形晶圆研磨后的硅厚度

晶圆厚度Φ300mm尺寸


特点

规格

自动Mapping系统式样表
名称自动Mapping系统Load Port对应膜厚仪
型式--GS-300 series
样品台方式X-Y样品台R-θ样品台
光学系测量探头 CCD相机同轴显微测量头 IR相机
大晶圆尺寸150mm以下300mm以下仅Ф300mm
晶圆角度补正
Pattern对准
晶圆厚度范围视分光干涉式晶圆厚度传感器的式样而定
设备尺寸(W×D×H)mm本体:570x600x780
控制器:500x273x177
(PC、显示器尺寸除外)
本体:773x760x600
控制器:350x310x120
LED电源:90x160x80
(PC、显示器尺寸除外)
500x500x1680
内置PC
(显示器、键盘尺寸除外)


测量示例

  测量示例

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统

核心特点


  1. 非破坏性高速测量:采用显微分光技术,1秒内完成单点对焦与测量,支持从紫外(230nm)到近红外(1600nm)广波长范围,覆盖1nm至92μm膜厚需求,满足半导体、光学材料等高精度场景。


  2. 透明基板技术:反射对物镜设计,物理消除基板内部反射干扰,实现玻璃、SiC等透明或异向性基板上的高精度膜厚测量,支持50层以上多层膜解析。


  3. 智能建模与易用性:内置初学者模式,简化光学常数(n/k)建模流程,支持宏功能自定义测量序列,可无缝集成自动化产线。


日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚测量系统-成都藤田科技提供





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