无损检测电镀层厚度菲希尔x荧光测厚仪

无损检测电镀层厚度菲希尔x荧光测厚仪

无损检测电镀层厚度菲希尔x荧光测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的*基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

菲希尔x射线荧光测厚仪特点

菲希尔x荧光测厚仪根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度

XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm

钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源

采用经实践验证的短测量时间的比例接收器

准直器：固定或4个自动切换

初级过滤器：固定或3个自动切换

固定样品台或手动XY载物台

用于光学观察测量点的摄像头

经认证的全面防护设计；

菲希尔XULM应用

电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护

电镀液中金属含量的分析

装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS

>电子行业连接器和触点上的镀层

德国菲希尔MPO/MP0涂层测厚仪概述：

MPO涂层测厚仪为德国生产涂层测厚仪，MPO涂层测厚仪集合了磁性测厚仪（P-MP0D）和涡流测厚仪（I-MP0D）两种仪器的功能，MPO涂层测厚仪是D-MP0D，MPOR型仪器的改进型产品。可用于测量铁基及非铁基体上涂层的厚度。如：

1. 钢铁材料上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。

2. 铝、铜、金等箔、带材料及纸张、塑料膜的厚度。

3. 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。

4. 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。

5. 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。