菲希尔元素定量测试的探测器介绍

XRF分析方法的最后一个关键组成部分是探测器，它接收荧光辐射并以高精度进行测量。来自探测器的信息被传递到分析软件并进行相应处理。探测器的类型决定了您可以使用XRF光谱仪解决哪些测量任务。
我们提供市场上探测器组合。这意味着只有在Fischer，您才能找到适合您的测量任务并以最佳方式解决它的探测器。有三种类型各具特定优势的探测器。

在测量技术专家的组合中，久经考验的比例计数器（PC）管是*的。它提供了一个巨大的探测器区域，带有一个略微弯曲的窗口。这个特点使它在大量荧光信号到达探测器时，能够实现高计数率。它可以在距离样品20–80 mm处进行测量。PC管通常用于1–30µm范围内的涂层厚度测量和小测量点。另一个优点是，PC管对样品与探测器对准的精度和测量距离设置的敏感性比较低。PC管配合Fischer开发的漂移补偿为标准，提供了稳定性。

对于要求更高的镀层厚度测量，需要更高的能量分辨率。在这种情况下，使用硅PIN二极管的XRF分析仪是一个很好的选择。这种半导体探测器也可以成功地用于简单的材料分析。因此，硅PIN探测器是我们探测器产品组中间环节。

高质量XRF光谱仪使用硅漂移检测器（SDD）。这种探测器是强大的。它具有特别好的能量分辨率和特别高的检测灵敏度。因此，在测试材料的元素组成时，SDD提供了所有探测器中性能。样品中仅以极低浓度存在的元素的荧光信号也能很容易检测到。此外，配备SDD的仪器可精确确定纳米范围内的镀层厚度，并允许对复杂的多层结构进行可靠评估。