菲希尔x射线测厚仪XDL240产品介绍
德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用自动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
简介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有:
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量,如测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL 240 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
由于采用了 FISCHER *基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 XY 工作台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的 Z 轴系统,可编程运行。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调整。
所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能
强大而界面友好的 WinFTM软件在电脑上完成。
XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受*保护的仪器,型式许可*符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
免责声明
- 凡本网注明“来源:化工仪器网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-化工仪器网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:化工仪器网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源(非化工仪器网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。