菲希尔XDL220测厚仪高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置。
设计用途 能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。 元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时,最多可同时测定24种元素 设计理念 台式仪器,测量门向上开启 测量方向 由上往下。
XDL220: 固定工作台,马达驱动的Z轴系统。
采用了 FISCHER 基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
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