菲希尔x射线测厚仪xdl 210/220/230/240

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菲希尔x射线测厚仪xdl 210/220/230/240

Fischerscope xdl 210/220/230/240菲希尔x-ray射线镀层测厚仪简介：
FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。
XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪，用于对保护和装饰涂料，量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。菲希尔荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）。配备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选用自动测量的可编程工作台

德国菲希尔镀层分析仪在质量管理到不良品分析有着广泛的应用.用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业. 高性能、高精密、高分辨。实现了快速、精密、准确的X-射线镀层测量仪器。世界光学准直器，可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（0.1nm）至微米（μm）。菲希尔镀层分析仪也能测量多至24个元素的块状合金成分，其准确度、精密度和稳定性，用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。此仪器能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业