X-RAY XAN 250菲希尔测厚仪fischer

 X-RAY XAN 250菲希尔测厚仪fischer

X-RAY XAN 250菲希尔测厚仪fischer

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252高性能X射线荧光测量仪，配有**的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。 FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252高性能X射线荧光测量仪特点 高性能机型，具有强大的综合测量能力 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)

X-RAY XAN 250

费希尔代理

菲希尔代理

FISCHERSCOPE X-RAY XAN250

FISCHERSCOPE X-RAY XAN250
通用高性能X射线荧光测量仪的快速和非破坏性的材料分析和镀层厚度测量
特点
通用的溢价仪器与全面的测量能力
光圈（准直）4个电多变，主过滤器的6倍电多变
随着高解析度：硅driftdetector（SDD）也适用于更复杂的分析与许多元素
测量方向从底部到顶部，这允许快速和简单的样品定位
典型的应用领域
测量从几纳米，功能性涂料，电子和半导体行业
跟踪分析，为保护消费者权益，例如在玩具的铅含量
分析与精度要求最高的珠宝和钟表工业的合金和金属精炼厂
大学和行业研究