菲希尔x射线测厚仪X-ray XDL 240

 菲希尔x射线测厚仪X-ray XDL 240

FISCHER 的台式涂镀层测厚仪使用 X 射线荧光法或多探头的接触式测量技术，能提供性能和灵活性。由于运用了各种测量技术，因此能够为任何测量任务提供合适的解决方案。台式仪器可以通过软件和硬件接口轻松集成到生产和质量管理系统中。

 菲希尔x射线测厚仪X-ray XDL 240

XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
FISCHERSCOPE  X-RAY XDL  240 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用自动方
式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄镀层，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
XDL 240 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了 FISCHER *基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样
品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。