X射线衍射仪（D8A25）样品结构分析测试

X射线衍射仪（D8A25）样品结构分析测试可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。

X射线衍射仪（D8A25）样品结构分析测试可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精细Ｘ射线结构解析等各种分析。

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析

配置：1.九位进样；2. 电化学原位池

功能：物相分析；电化学原位分析

参数：

1、 输出功率：3Kw

2、 Cu靶，陶瓷X光管，2.2Kw

3、 测量范围-100o≤2θ≤168 o 小角最小0.3度

4、 可读最小步长：0.0001 o，角度重现性：0.0001 o

5、 定位速度：1200 o/min

6、 子探测器个数：192个

7、 整个探测器总背景：＜0.1 cps

8、 能量分辨率：＜9%