X射线衍射仪（XRD-6000）样品结构分析测试

X射线衍射仪（XRD-6000）样品结构分析测试具有本质稳定可靠的结构。

只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高稳定可靠性。

配备高速运转（1000°/min）及高精度角度重现性（±0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。

驱动机构为独立2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴独立驱动，特别对薄膜测定行之有效。

XRD-6100具有本质稳定可靠的结构。

只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高稳定可靠性。

配备高速运转（1000°/min）及高精度角度重现性（±0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。

驱动机构为独立2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴独立驱动，特别对薄膜测定行之有效。

X射线衍射仪（XRD-6000）样品结构分析测试

技术参数

　　X射线发生器：电流电压输出稳定性优于0.005% (外电压波动10%)时;X射线防护： 安全认证，射线剂量≤1μSv/h。

　　光管类型：陶瓷X光管，Cu靶，NF2KW，BF3KW;光管功率：2.2 kW;焦斑：1.0×10mm(2KW)或2.0×12mm(3KW);zei大管压：60kV;zei大管流：80mA;

　　测角仪：采用垂直测角仪型

　　扫描方式连续或步进扫描方式，θs—θd联动或θs、θd单动方式;

　　zei小步进角度0.0001°(θ),0.0002(2θ); 角度重现性0.0001 °(2θ);

　　zei高定位速度 ≥1000°/min。

　　探测器：闪烁

　　闪烁晶体计数器;动态范围≥2×106 cps;